​検査装置

研發用LD測試機

LD342L/S -RT/LT

概  要

該設備是用於研發的台式LD測試系統,可半自動測量TO-CAN,裸芯片,COS和COC狀態下的長波/短波激光二極管的電氣和光學特性。

測定対象

TO-CAN Package :φ5.6、φ9.0、Bare Chip、COS,COC (對應各種夾具)

※關於其他特殊封裝請與我們聯係。我司會準備専用夾具。

長波長LD:L型、短波長LD:S型

温度控制方式・範囲

・溫度由Peltier、水冷器控制

・-40℃~95℃:LT型、・20℃~95℃:RT型、

  設定項目

標準項目

・ IL測量(CW,脈衝)

・ FFP測量(垂直)

・ FFP測量(水平)

-IrLD / IrPD / Im(LD反向電流/ PD反向電流/ Im電流)

・波長測量

長波:ANRITSU MS9740B,橫河AQ6360

短波:YOKOGAWA AQ6373B

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