LD検査装置
TO-CANパッケージLDの電気的、光学的特性の検査選別分類をする装置です。 量産型の高速検査装置で、供給・分類収納を全自動で行います。
対応レーザ：
フレームタイプLDの電気的、光学的特性の検査選別分類をする装置です。 量産型の高速検査装置で、供給、分類収納を全自動で行います。
チップバーLDの電気的、光学的特性の検査をする装置です。
セミオート、マニュアル機を取り揃えています。
詳しく：
チップバーLDの電気的、光学的特性の検査をする装置です。
供給、測定、収納分類を全自動で行います。
ベアチップLDの電気的、光学的特性の検査をする量産型の
高速検査装置です。
1-2温度(20℃～95℃)を2-4ポジションで計測、供給、分類収納を
自動で行います。
ベアチップLDの電気的、光学的特性の量産型の高速検査装置です。
1-2-3温度(-40°～25℃～95℃)を1-2-3ポジションで計測、供給、
分類収納を自動で行います。
TO-CAN LDの3温度(-40°～25℃～95℃)特性試験を目的としたLD温度特性
検査装置です。CANパッケージ、チップキャリア状態のLDを専用治具ボードに装着し、温度制御を行いながら計測及び判定を自動で行います。
TO-CAN LDの電気特性、光学特性をー10°C~の 範囲で1温度で
自動測定する装置です。
専用治具にて各種パッケージのLDに対応した研究評価用LD検査装置です。 手動でワークをセットし自動で全項目測定し判定を行います。
専用治具にて各種パッケージのLDに対応した研究評価用LD検査装置です。 LDモジュール内部、外部の温度を制御しながら各種測定を行います。
デスクトップタイプの研究評価用簡易LDテスタです。
専用治具で各種パッケージのLDに対応します。
手動でワークをセットし自動でI-L、λ、FFPを測定します。
仕様として長波or短波、低温～高温or常温～高温の組み合わせを選定します。
TO-CANやチップﾊﾞｰのLD、COSなどに対応した高出力タイプの
LD検査装置です。
VCSELパッケージ専用のLD検査装置です。
画像処理にてLD発光点を検出し、高精度な測定ができます。
VCSELウェハ用のLD検査装置です。
ウェハ状態のチップ単位でI-L、λ、NFP、FFP各項目を計測します。
LDチップの上面、端面検査を目的とした自動外観検査装置です。 リングシートまたはゲルパックに張り付いた状態でチップの外観不良を
検知します。
外観不良品を除去することで良品のみシート上に残すことができます。
搬送トレイとバーンインボード/
LD3600ジグボードでTO-CANのLDを挿入/抜去する搬送ロボットです。
各種パッケージ、各種トレイ、治具ボードなどお客様の仕様に合わせた装置を設計します。
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