​検査装置

芯片測試機/

半自動及手動型

LD2300CF

概  要

該設備是一種LD測試系統,可以自動測量處於Chip bar狀態的長波長SOA陣列的電氣和光學特性。將SOA陣列設置在特殊夾具上,用監視攝像機調整位置,並自動進行“ IL / IV測量”,“ FFPV,H測量”和“波長測量”。

 測定対象

SOA陣列  諧振器長度:〜6000μm,Chip bar長度:5〜20 mm

供給形態

・專用夾具x1

 温度範囲

・20℃~95℃

設定項目

標準項目

・ IL / IV測量,Ir / Vr測量(CW,脈衝)

・ FFP測量(垂直)

・ FFP測量(水平)

・波長測量:標準兼容設備

長波:ANRITSU MS9740B,橫河AQ6360

* TM / TE濾波器自動切換。 1530/1540/1550 / 1560nm每個波長濾波器都是手動切換的。 (FFP測量)

* TM / TE濾波器和1530/1540/1550 / 1560nm波長濾波器會自動切換。 (波長測量)

   詳細:

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