​検査装置

高功率型LD測試機

LD4500DAT

概  要

該設備是LD測試系統,用於檢測COS和CHIP狀態的超高功率激光器的電學和光學特性並可自動測量和

分類。

 測定対象

COS L = 3000-6000μm,W = 3000-6000μm

芯片L = 2000-5000μm,W = 300-600μm

30A,30W 400-1000納米

*請與我們聯繫以獲取詳細的形狀和規格。

供給・収納形態

COS :2” gel pack x1 (供給),  2” gel pack x3 (収納)

CHIP :6”grip ring x1 (供給),  6”grip ring x2 or 2” gel pack x3 (収納)

温度控制方式・範囲

・通過Peltier和水冷循環進行控制

・ 25℃〜95℃

設定項目

・ IL測量(CW,脈衝)

・ FFP測量(垂直)(±45°)

・ FFP測量(水平)(±45°)

・ Ir / VrLD(LD反向電流,反向電壓)

・波長測量

短波:Ocean optics HR4000​

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