​検査装置

【 光半導体検査装置 】

​檢查設備簡介

敝司旨在建立一個最佳的生產系統,以滿足客戶的需求。
提供以光學半導體檢測設備為基礎的的定制產品。

多年來豐富的實績使我們擁有各類型產品。請根據元件規格(波長,輸出等),形狀(芯片,各種封裝)的測量項目,測量條件(溫度等)的應用和運輸方式選擇最合適的系統。

一系列批量生產檢查流程,例如芯片LED的高速檢查,外觀檢查,分類和芯片鍵合機。包括檢驗和分類綜合評估系統以及各種特殊包裝的檢驗設備,我們提供滿足客戶需求的產品。

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