top of page
光ファイバー
privacy_title.jpg

​検査装置

浅蓝色背景.png

高功率型LD測試機

LD4500DAT
LD4500_edited.png

概　　要

該設備是LD測試系統，用於檢測COS和CHIP狀態的超高功率激光器的電學和光學特性並可自動測量和

分類。

 測定対象

COS L = 3000-6000μm，W = 3000-6000μm

芯片L = 2000-5000μm，W = 300-600μm

​

30A，30W 400-1000納米

​

*請與我們聯繫以獲取詳細的形狀和規格。

供給・収納形態

COS　：2” gel pack ｘ1　(供給),  2” gel pack ｘ3　(収納)

CHIP　：6”grip ring ｘ1　(供給),  6”grip ring ｘ2 or　2” gel pack ｘ3　(収納)

温度控制方式・範囲

・通過Peltier和水冷循環進行控制

・ 25℃〜95℃

設定項目

・ IL測量（CW，脈衝）

・ FFP測量（垂直）（±45°）

・ FFP測量（水平）（±45°）

・ Ir / VrLD（LD反向電流，反向電壓）

・波長測量

短波：Ocean optics HR4000​

bottom of page