​検査装置

LD芯片測試機

LD2900TB

概  要

本裝置為LD測試系統,用於檢測Bare Chip狀態下的長波長(用於光通信)激光二極管的電氣和光學特性,可自動進行測量和分類。

LD2900TB在單一溫度(20°C至95°C)下測量“ IL(前/後)”,“ IV”,“ Ir,Vr”和“波長”等測量項目。

可以根據客戶需求添加項目,例如“ OCR功能”,“ RF高頻疊加”和“ EA測量”。

 測定対象

激光二極管Bare Chip

*請與我們獲取更多芯片尺寸和形狀信息。

供給形態

・6“供給環x1

​収納分類形態

・ 6“供給環x2

+ NG Shooter

 

*可以選擇凝膠包裝。請與我們聯係。

測量轉台/測量台面

・轉盤方式(1個/溫度)

・ 2 Stations/ TT型

位置1:供應,存儲,計量位置

位置2:探測,測量位置

(IL測量(前/後),IV測量,Ir,Vr測量,波長測量)

・測量臺面:2個臺面

       接觸方式

・針形探針與上方電極接觸,下方電極與測試台面接觸。

温度範囲

・20℃~95℃

設定項目

標準項目

・ IL測量(CW,Pulse)前/後同步測量

・ Ir / Vr測量

・波長測量:標準兼容設備

安立MS9740B

橫河AQ6360

可選項目

・ OCR字符讀取

・射頻高頻疊加

・ EA量測

   詳細:

Copyright 2012 ALPHAX Co.,LTD. All rights reserved