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光ファイバー
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​検査装置

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LDチップテスタ

LD2930MTB(開発中)
更新中

概　　要

本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。

LD2930MTBは3温度（常温、高温、低温（-40℃～95℃））で「Ｉ－Ｌ測定（FRONT/BACK）」、「I-V測定」、「Ir,Vr測定」、「波長測定」の測定項目を計測します。

オプションで「OCR機能」「RF高周波重畳」「EA測定」など、お客様の必要項目を追加可能です。

 測定対象

レーザーダイオードベアチップ

​

※チップサイズ、形状はご相談ください

供給形態

・6“グリップリングｘ1

​収納分類形態

・6“グリップリングｘ6

    +NGシュータ　

　　　　　

※オプションでゲルパック対応が可能です。ご相談下さい。

測定台/測定ホルダ

・インデックスターンテーブル方式（3基/3温度）

・2ステーション/TTｘ3TT式

　ポジション1：供給、収納、ゲージングポジション

　ポジション2：プロービング、測定ポジション

（Ｉ－Ｌ測定（FRONT/BACK）、I-V測定、Ir,Vr測定、波長測定）

・測定ホルダ：2ホルダｘ3TT

温度範囲

・-40℃～95℃

チャンバー試験室/供給排出パスボックス

測定室はチャンバー構造になっており、-40℃試験時には槽内に結露防止のため、ドライエアーorN2ガスを充満させて測定します。測定室へのグリップリングの出し入れは左右にあるパスボックスを経由して行います。

 コンタクト方式

・針形探針與上方電極接觸，下方電極與測試台面接觸。

設定項目

標準項目

　常温/低温or高温

・Ｉ－Ｌ測定（ＣＷ、Ｐｕｌｓｅ）FRONT/BACK(常温のみ)　同時測定

・Ｉｒ／Vｒ測定

・波長測定：標準対応機器

　ANRITSU　MS9740B

　YOKOGAWA　AQ6360

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オプション項目

・OCR　文字読み取り

・RF高周波重畳

・EA　測定​

   詳細：

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