​検査装置

LD芯片測試機

LD2920MTB

概  要

該設備是LD測試系統,可用於檢測Bare Chip狀態長波長(用於光通信)激光二極管的電氣和光學特性並自動測量和分類。

LD2920MTB在2個溫度(常溫/低溫或高溫(-40°C至95°C))下,測量“ IL(前/後)”,“ IV”,“ Ir,Vr”,

“波長”)等項目。

可以根據客戶需求添加項目,例如“ OCR功能”,“ RF高頻疊加”和“ EA測量”。

 測定対象

激光二極管Bare Chip

*請聯繫我們獲取更多芯片尺寸和形狀信息。

供給形態

・6“供給環x1

​収納分類形態

・ 6“供給環x3

+ NG Shooter

 

*可以選擇凝膠包裝。請聯繫我們。

測定轉台/測定台面

・轉盤方式(2個單位/ 2個溫度)

・ 2站/ TTx2TT型

位置1:供應,存儲,計量位置

位置2:探測,測量位置

(IL測量(前/後),IV測量,Ir,Vr測量,波長測量)

・測量台面:2個台面x 2TT

温度範囲

・-40℃~95℃

Champer測試室/供應/取出箱

測量室具有Champer(恆溫恆濕)結構,並且在-40°C測試期間,測量室内會充滿乾燥的空氣或N2氣體以防止結露。藍膜環可以通過左側和右側的通行盒進出測量室。

      接觸方式

・針形探針與上方電極接觸,下方電極與測試台面接觸。

設定項目

標準項目

常溫/低溫或高溫

・ IL測量(CW,脈衝)前/後(僅常溫)同時測量

・ Ir / Vr測量

・波長測量:標準兼容設備

安立MS9740B

橫河AQ6360

可選項目

・ OCR字符讀取

・射頻高頻疊加

・ EA量測

   詳細:

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