​検査装置

LD芯片測試機

LD2735VF

​更新中

概  要

本設備是LD測試系統,用於檢測Bare Chip多光束VCSEL的電學和光學特性并且自動高速測量和分類。倒裝芯片多束VCSEL(頂部發射,底部2個電極)和常規多束VCSEL(頂部發射,頂部和底部電極)。無需更換台面就可以對應兩種類型的芯片。測量項目為“ IL / IV”,“波長”和“ NFP”。

 測定対象

倒裝芯片多光束VCSEL裸芯片

多光束VCSEL Bare Chip

* CW6A,PULSE10A,10W

供給収納形態

・供給:6“供給環x1

​・収納:Bin Block x6

測定轉台/測定台面

・轉盤方式(1個/溫度)

・ 4 Stations/ TT型測量為2 Stations,供應和收納為2 Stations。

・測量台面:4個台面

  温度範囲

・20℃~90℃

設定項目

標準項目

・ IL / IV測量,Ir / Vr測量(CW,脈衝)

・波長測量:OCEAN OPTICS Maya 2000PRO

・ NFP測量(多光束評估)

   詳細:

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