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検査装置
LD芯片測試機
LD2700
概 要
該設備是LD測試系統，可自動自動測量和分類裸芯片激光二極管的電氣和光學特性。
它與各種LD兼容，並具有大量的長波長和短波長交貨經驗。
我們擁有支持COS，COC，VCSEL等經驗。
基本測量項目為“ IL / IV測量”和“波長測量”。
可選項目為“ FFPV，H測量”“ RF高頻疊加”“ EA測量”“極化率測量”“高速脈衝測量”。
同時可以根據客戶要求增加測試項目。
測定対象
裸芯片LD，COS，COC，VCSEL，頂部2個電極，Flip芯片等
*請聯繫我們獲取形狀等信息。
供給形態
・ 6“供給環x1
・特殊托盤
収納分類形態
・ 6“收納x2〜3”
・特殊托盤
+ NG Shooter
*請與我們聯繫，定制托盤的形狀，平面放置的數量以及更換盒的台數。
測量轉台/測量台面
・轉盤方式（1個/溫度）
・ 4 Stations/ TT型
最多可測量2-3個Station，其中2個站用於供給和收納。
・測量台面：4個台面
温度範囲
・20℃～95℃
接觸方式
・上下端用針型探針接觸頂部電極，下電極與測量台接觸。
・上表面為2電極的芯片通過針型探針接觸上表面2電極。
・Flip Chip下面的兩個電極與量測台接觸。
設定項目
標準項目
・ IL / IV測量
・ Ir / Vr測量（CW，脈衝）
・波長測量：標準兼容設備
長波：ANRITSU MS9740B，橫河AQ6360
短波：OCEAN OPTICS HR4000，橫河AQ6373B
可選項目
・ FFP測量（垂直）
・ FFP測量（水平）
・ NFP測量（MULTI BEAM評估等）
・ OCR字符讀取
・射頻高頻疊加
・ EA量測
詳細：
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