​検査装置

LD芯片測試機

LD2700

概  要

該設備是LD測試系統,可自動自動測量和分類裸芯片激光二極管的電氣和光學特性。

它與各種LD兼容,並具有大量的長波長和短波長交貨經驗。

我們擁有支持COS,COC,VCSEL等經驗。

基本測量項目為“ IL / IV測量”和“波長測量”。

可選項目為“ FFPV,H測量”“ RF高頻疊加”“ EA測量”“極化率測量”“高速脈衝測量”。

同時可以根據客戶要求增加測試項目。

 測定対象

裸芯片LD,COS,COC,VCSEL,頂部2個電極,Flip芯片等

*請聯繫我們獲取形狀等信息。

供給形態

・ 6“供給環x1

・特殊托盤

​収納分類形態

・ 6“收納x2〜3”

・特殊托盤

+ NG Shooter

 

*請與我們聯繫,定制托盤的形狀,平面放置的數量以及更換盒的台數。

測量轉台/測量台面

・轉盤方式(1個/溫度)

・ 4 Stations/ TT型

最多可測量2-3個Station,其中2個站用於供給和收納。

・測量台面:4個台面

温度範囲

・20℃~95℃

      接觸方式

・上下端用針型探針接觸頂部電極,下電極與測量台接觸。

・上表面為2電極的芯片通過針型探針接觸上表面2電極。

・Flip Chip下面的兩個電極與量測台接觸。

設定項目

標準項目

・ IL / IV測量

・ Ir / Vr測量(CW,脈衝)

・波長測量:標準兼容設備

長波:ANRITSU MS9740B,橫河AQ6360

短波:OCEAN OPTICS HR4000,橫河AQ6373B

 

 

可選項目

・ FFP測量(垂直)

・ FFP測量(水平)

・ NFP測量(MULTI BEAM評估等)

・ OCR字符讀取

・射頻高頻疊加

・ EA量測

   詳細:

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