検査装置
LDチップテスタ
LD2700
概 要
本装置はベアチップ状態のレーザーダイオードの電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。様々なLDに対応可能で長波長/短波長それぞれ多数の納入実績があります。
COS,COC、VCSEL等にも対応実績があります。
基本は測定項目は「Ｉ-Ｌ/I-V測定」「波長測定」です。
オプションで「ＦＦＰＶ、Ｈ測定」「RF高周波重畳」「EA測定」「偏光比測定」「高速パルス測定」
など、お客様の必要項目を追加可能です。
測定対象
ベアチップLD、COS,COC、VCSEL、上面2電極、フリップチップ、etc
※形状等はご相談下さい。
供給形態
・6“グリップリングｘ1
・特殊トレイ
収納分類形態
・6“グリップリングｘ2～3
・特殊トレイ
+NGシュータ
※トレイ形状、平置き枚数、チェンジャー・マガジンの段数についてはご相談下さい。
測定台/測定ホルダ
・インデックスターンテーブル方式（1基/1温度）
・4ステーション/TT式
測定は最大2-3ステーション、２ステーションは供給、収納に使用します。
・測定ホルダ：4ホルダ
温度範囲
・20℃～95℃
コンタクト方式
・上下面チップはニードル式プローブで上面電極にコンタクト、
下面電極は測定ステージによってコンタクト
・上面2電極チップはニードル式プローブで上面2電極にコンタクト
・フリップチップは下面2電極に測定ステージによってコンタクト
設定項目
標準項目
・Ｉ-Ｌ/I-V測定
・Ｉｒ／Vｒ測定（ＣＷ、Ｐｕｌｓｅ）
・波長測定：標準対応機器
長波：ANRITSU MS9740B、YOKOGAWA AQ6360
短波：OCEAN OPTICS HR4000、YOKOGAWA AQ6373B
オプション項目
・ＦＦＰ測定（垂直）
・ＦＦＰ測定（水平）
・ＮＦＰ測定（MULTI BEAM評価等）
・OCR 文字読み取り
・RF高周波重畳
・EA 測定
詳しく：