​検査装置

高出力タイプLDテスタ

LD4500DAT

概  要

本装置はCOS,CHIP状態の超高出力レーザーの電気特性、光学特性を自動的に測定・選別するLDテストシステムです。

 測定対象

COS L=3000~6000μm、W=3000~6000μm

CHIP L=2000~5000μm、W=300~600μm

30A,30W 400-1000nm

※詳細形状、仕様は都度ご相談下さい。

供給・収納形態

COS :2” gel pack x1 (供給),  2” gel pack x3 (収納)

CHIP :6”grip ring x1 (供給),  6”grip ring x2 or 2” gel pack x3 (収納)

温度制御方式・範囲

・ペルチェ,水冷循環より制御​

・25℃~95℃

設定項目

・I-L測定(CW、Pulse)

・FFP測定(垂直)(±45°)

・FFP測定(水平)(±45°)

・Ir/VrLD(LD逆電流、逆電圧)

・波長測定

​ 短波: Ocean optics HR4000​

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