​検査装置

LD モジュールテスタ

LD4300B

​準備中

概  要

本装置は長波長LDモジュールの電気特性、光学特性を自動的に測定するLDテストシステムです。

LDモジュール温度を内部・外部でコントロールして各特性を測定します。

各種LDモジュールに対応可能です。

 測定対象

LDモジュール

素子形状: バタフライタイプ、DIPタイプ、同軸タイプ(5.6φ)

ファイバ先端形状:FCコネクタ型、SCコネクタ型

※詳細形状、仕様は都度ご相談下さい。

供給形態

・各種専用治具

温度制御

・内部温度制御 ペルチェ

・外部温度制御 空冷式およびサーモモジュール

設定項目

標準項目

・I-L測定(CW、Pulse)

・IrLD/IrPD/Im(LD逆電流/PD逆電流/Im電流)

・波長測定

​ 長波: ANRITSU MS9740B、 YOKOGAWA AQ6360

・クーラー特性(ペルチェ) (抵抗値、動作電圧、動作電流値)

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