​検査装置

LDチップテスタ

LD2700

概  要

本装置はベアチップ状態のレーザーダイオードの電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。様々なLDに対応可能で長波長/短波長それぞれ多数の納入実績があります。

COS,COC、VCSEL等にも対応実績があります。

基本は測定項目は「I-L/I-V測定」「波長測定」です。

オプションで「FFPV、H測定」「RF高周波重畳」「EA測定」「偏光比測定」「高速パルス測定」

など、お客様の必要項目を追加可能です。

 測定対象

ベアチップLD、COS,COC、VCSEL、上面2電極、フリップチップ、etc

※形状等はご相談下さい。

供給形態

・6“グリップリングx1

・特殊トレイ

​収納分類形態

・6“グリップリングx2~3

・特殊トレイ

  +NGシュータ  

    

※トレイ形状、平置き枚数、チェンジャー・マガジンの段数についてはご相談下さい。

測定台/測定ホルダ

・インデックスターンテーブル方式(1基/1温度)

・4ステーション/TT式

 測定は最大2-3ステーション、2ステーションは供給、収納に使用します。

・測定ホルダ:4ホルダ

温度範囲

・20℃~95℃

 コンタクト方式

・上下面チップはニードル式プローブで上面電極にコンタクト、

 下面電極は測定ステージによってコンタクト

​・上面2電極チップはニードル式プローブで上面2電極にコンタクト

・フリップチップは下面2電極に測定ステージによってコンタクト

設定項目

標準項目

・I-L/I-V測定

・Ir/Vr測定(CW、Pulse)

・波長測定:標準対応機器

 長波:ANRITSU MS9740B、YOKOGAWA AQ6360

 短波:OCEAN OPTICS HR4000、YOKOGAWA AQ6373B

 

 

オプション項目

・FFP測定(垂直)

・FFP測定(水平)

・NFP測定(MULTI BEAM評価等)

・OCR 文字読み取り

・RF高周波重畳

・EA 測定​

 ​詳しく:

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