​検査装置

LDチップテスタ

LD2735VF

​更新中

概  要

本装置はベアチップ状態のMulti beam VCSELの電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。Flip chip Multi beam VCSEL (上面発光、下面2電極)と通常のMulti beam VCSEL(上面発光、上下面電極)の兼用機です。ホルダを交換することなく2種類のチップに対応可能です。測定項目は「I-L/I-V測定」「波長測定」「NFP測定」です。

 測定対象

フリップチップマルチビームVCSELベアチップ

マルチビームVCSELベアチップ

※CW6A,PULSE10A,10W

供給収納形態

・供給:6“グリップリングx1

​・収納:Bin Block x6

測定台/測定ホルダ

・インデックスターンテーブル方式(1基/1温度)

・4ステーション/TT式  測定は2ステーション、供給、収納は2ステーション。

・測定ホルダ : 4ホルダ

  温度範囲

・20℃~90℃

設定項目

標準項目

・I-L/I-V測定、Ir/Vr測定(CW、Pulse)

・波長測定:OCEAN OPTICS Maya 2000PRO

・NFP測定(MULTI BEAM評価)

 ​詳しく:

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